造成直讀光譜儀誤差的五大因素「下」
造成直讀光譜儀誤差的五大因素「下」
誤差的第三因素——標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、分析樣品和氬氣（料）
常見的系統(tǒng)誤差如，分析試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品的組織狀態(tài)不同，同樣的元素含量測定的結(jié)果也不相同，從而引入了系統(tǒng)誤差。最顯著的如鑄鐵，由于碳球墨化的影響，直接上機測定會導(dǎo)致碳數(shù)據(jù)失真。因此將鑄鐵樣品經(jīng)過白口化處理，將其調(diào)整到和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)一樣狀態(tài)，便可以解決該系統(tǒng)誤差。
氬氣由于其氧和水蒸氣等雜質(zhì)超標(biāo)導(dǎo)致純度不夠，激發(fā)斑點變白，氧在高溫下與硅、鋁、鉻等元素反應(yīng)形成不穩(wěn)定的擴散放電，直接影響數(shù)據(jù)的精密度和準(zhǔn)確度，從而引入系統(tǒng)誤差。該誤差可以通過安裝氬氣凈化機來解決。
光譜標(biāo)樣在化學(xué)分析定值不準(zhǔn)確時帶來的系統(tǒng)誤差，可以通過將標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)重新定值來消除。
澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋鍛壓狀態(tài)的鋼樣金相組織結(jié)構(gòu)不相同時，測出的數(shù)據(jù)也會有所差別還有未知元素譜線的重疊干擾，如熔煉過程中加人脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。要消除該系統(tǒng)誤差必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定制樣，需要采用化學(xué)分析方法分析并多次校對結(jié)果。若標(biāo)樣和試樣中的第三元素的含量和化學(xué)組成不完全相同，亦有可能引起基體和分析線的強度改變，從而引入誤差。
帶來隨機誤差的因素有樣品在冶煉過程中帶人的夾雜物或產(chǎn)生偏析；插鋁脫氧造成樣品元素分布不均勻在加工過程中帶人的砂?；蛘弑粶y元素和磨樣紋路交叉、試樣研磨過熱、試樣磨面放置時間太長和壓上指紋等。試樣在取樣冷卻過程中的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼造成激發(fā)室氣體純度不高。樣品表面平整度差或樣品厚度較薄被擊穿，在分析過程中都會導(dǎo)致漏氣，直接影響激發(fā)光室氣壓下降，激發(fā)斑點變白。對高鎳鉻鋼磨樣時，要使用新砂輪片磨樣。上述缺陷的出現(xiàn)會導(dǎo)致測定結(jié)果精密度變差，引起隨機誤差。
誤差的第四因素——方法
該類誤差有工作曲線選擇不正確（比如用低合金鋼工作曲線測量高合金鋼中的元素含量）所帶來的系統(tǒng)誤差。采用控樣法測定樣品時，控樣標(biāo)準(zhǔn)值輸入錯誤所引起的系統(tǒng)誤差。
誤差的第五因素——環(huán)境
入射透鏡受到灰塵污染，其部分入射光被反射未進入分光系統(tǒng)，導(dǎo)致光譜譜線強度值下降，使測定數(shù)據(jù)偏低，帶來系統(tǒng)誤差。該誤差可以通過定期清洗透鏡來解決。
入射或者出射狹縫因受外界震蕩而發(fā)生位移，導(dǎo)致復(fù)合光未完全進入分光系統(tǒng)，產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。該誤差通過全局校準(zhǔn)或定期描跡來解決。
產(chǎn)生隨機誤差的因素如：室溫的波動太大或濕度過大引起積分電容漏電；濕度過小因積灰產(chǎn)生靜電，導(dǎo)致電路板的波動。這些環(huán)境因素引發(fā)的問題同樣會使測定結(jié)果精密度變差。 資訊案例 News Center
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